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bruker光學輪廓儀Contour GT系列利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業(yè)界Z大視場下的Z高垂直分辨率。

Bruker檢驗科用原子力顯微鏡結合了原子力顯微鏡和倒置光學顯微鏡并保留了兩者各自的優(yōu)點，大大減少了對實驗的時間和精力的投入，是生命科學領域易用的原子力顯微鏡。

Bruker AXS 掃描探針顯微鏡Innova是布魯克公司(Bruker AXS)所有掃描探針顯微鏡產品中的產品，其閉環(huán)掃描的噪音水平接近一些開環(huán)掃描系統(tǒng)的水平，可廣泛應用于器件表征、物理、材料科學和生命科學領域。

Bruker原子力顯微鏡/檢驗科用 Dimension Edge融合了布魯克 Dimension Icon 系列上所應用的一些創(chuàng)新技術，因而達到了同類產品的Z高水平，為納米尺度的科學研究提供了高效率、高性價比的強大工具。